Zobrazovací spektroskopická reflektometrie neuniformních tenkých vrstev = Imaging spectroscopic reflectometry of non-uniform thin films : teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru aplikovaná fyzika /

Main Author:	Ohlídal, Miloslav, 1950-
Corporate Author:	Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství
Language:	Czech
Published:	Brno : VUTIUM, 2012
Series:	Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. Habilitační a inaugurační spisy, sv. 417
Subjects:	thin films optical properties of materials
Physical Description:	33 s. : il. ; 24 cm
Language note:	Anglické resumé