English 
Čeština 
Elektrooptische Messungen an Porphyrinkomplexen als Modellsubstanzen für abgeplattete ellipsoidförmige Hohlräume /
| Main Author: | Lang, Werner |
|---|---|
| Corporate Author: | Johannes Gutenberg-Universität |
| Language: | German |
| Published: |
Mainz : Werner Lang, 1973 |
| Physical Description: |
6 stran |
Book
Z důvodu uzavření knihovny je až do odvolání zablokována možnost zadávání požadavků na výpůjčky. Děkujeme za pochopení.
| item status | due date | sublibrary | collection | location / second signature | description | note | Stock location mark |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
Month
|
On Shelf |
|
Stock / within 24 hours
|
X-0756.876 |