Advanced environmental scanning electron microscopy for study of susceptible samples in their native state and under dynamically changing conditions = Pokročilá environmentální rastrovací elektronová mikroskopie pro studium citlivých vzorků v jejich nativním stavu a při dynamicky se měnících podmínkách : zkrácená verze habilitační práce /

Hlavní autor: Neděla, Vilém, 1976-
Korporativní autor: Vysoké učení technické v Brně. Ústav elektrotechnologie
Jazyk: Angličtina
Vydáno: Brno : Vysoké učení technické v Brně, nakladatelství VUTIUM, 2021
Edice: Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. Habilitační a inaugurační spisy, sv. 677
Témata:
Fyzický popis: 30 stran : ilustrace ; 25 cm
Language note: České a anglické resumé
Knihy
Uloženo v:
Popis jednotky: "Obor Elektrotechnická a elektronická technologie"
Zkrácená verze habilitace--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, Ústav elektrotechnologie, 2021
Bibliografie: Obsahuje bibliografii
ISBN: 978-80-214-5923-6
ISSN: 1213-418X ;
Signatura: 2-1468.478
Odkaz do Alephu: plné zobrazení exempláře