|
|
|
|
| LEADER |
01887nam a22003132a 4500 |
| 001 |
000115694 |
| 003 |
CZ BrMZK |
| 005 |
20140110133123.0 |
| 007 |
ta |
| 008 |
950101s1970 xr f cze d |
| 040 |
|
|
|a BOA001
|b cze
|
| 041 |
0 |
|
|a cze
|b rus
|
| 100 |
1 |
|
|a Schmidt, Eduard,
|d 1935-2021
|7 jk01110985
|4 aut
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření /
|c Eduard Schmidt
|
| 260 |
|
|
|a Brno :
|b Universita J.E. Purkyně,
|c 1970
|
| 300 |
|
|
|a s. 311-316
|
| 490 |
1 |
|
|a Spisy přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně. Řada C ;
|v 20, č. 516, 8/1970
|
| 504 |
|
|
|a Obsahuje bibliografii
|
| 505 |
2 |
0 |
|t Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla /
|r Eduard Schmidt.
|g s. 317-326 --
|t Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon /
|r Eduard Schmidt.
|g s. 327-334 --
|t Optimization of ellipsometric measurements /
|r Eduard Schmidt.
|g s. 335-341 --
|t Ellipsometric method of the determination of the optical constants /
|r František Lukeš.
|g s. 343-350 --
|t Vibračně-rotační inverze dvouatomových molekul v nízkoteplotním neizometrickém plazmatu /
|r Jan Janča.
|g s. 351-357 --
|t Methods of X-Ray diffraction topography /
|r Vladka Stejskalová.
|g s. 359-370
|
| 546 |
|
|
|a Ruské resumé
|
| 700 |
1 |
|
|a Lukeš, František,
|d 1931-
|7 jn19981001775
|4 aut
|
| 700 |
1 |
|
|a Janča, Jan,
|d 1938-
|7 jk01050790
|4 aut
|
| 700 |
1 |
|
|a Stejskalová, Vlaďka,
|d 1943-
|7 jk01121136
|4 aut
|
| 810 |
2 |
|
|a Univerzita J.E. Purkyně v Brně.
|b Přírodovědecká fakulta.
|t Spisy
|
| 910 |
|
|
|a BOA001
|b 2-0658.725
|
| 990 |
|
|
|a BK
|
| 991 |
|
|
|b 201401
|
| 996 |
7 |
|
|b 2619949829
|c 2-0658.725
|l Sklad H1
|r Sklad / do 24 hodin
|n 10
|h HS212
|w 000115694
|u 000020
|a 1
|e BOA001
|j MZK50
|s A
|
| 996 |
6 |
|
|b 2619968323
|c 2-0658.725
|l Sklad H1
|r Sklad / do 24 hodin
|n 1
|h HS212
|w 000115694
|u 000010
|a 1
|e BOA001
|j MZK50
|s P
|
English 
Čeština 
