English 
Čeština 
Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření /
| Hlavní autor: | Schmidt, Eduard, 1935-2021 |
|---|---|
| Další autoři: | Lukeš, František, 1931-, Janča, Jan, 1938-, Stejskalová, Vlaďka, 1943- |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
Brno : Universita J.E. Purkyně, 1970 |
| Edice: |
Spisy přírodovědecké fakulty University J.E. Purkyně v Brně. Řada C ;
20, č. 516, 8/1970 |
| Fyzický popis: |
s. 311-316 |
| Language note: |
Ruské resumé |
|
Knihy
Obsah:
- Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla /
- Eduard Schmidt.
- s. 317-326
- Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon /
- Eduard Schmidt.
- s. 327-334
- Optimization of ellipsometric measurements /
- Eduard Schmidt.
- s. 335-341
- Ellipsometric method of the determination of the optical constants /
- František Lukeš.
- s. 343-350
- Vibračně-rotační inverze dvouatomových molekul v nízkoteplotním neizometrickém plazmatu /
- Jan Janča.
- s. 351-357
- Methods of X-Ray diffraction topography /
- Vladka Stejskalová.
- s. 359-370