English 
Čeština 
Vývoj ToF LEIS spektrometru pro zkoumání povrchů a tenkých vrstev = Development of the ToF LEIS spectrometer for surface and thin film analysis : zkrácená verze Ph.D. Thesis /
| Main Author: | Průša, Stanislav, 1971- |
|---|---|
| Corporate Author: | Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství |
| Language: | Czech |
| Published: |
[V Brně : Vysoké učení technické], c2006 |
| Series: |
Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis,
sv. 383 |
| Subjects: | |
| Physical Description: |
32 s. : il. ; 21 cm |
| Language note: |
Anglické resumé |
|
Book
| Item Description: |
Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2003 "Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství"--Tit. s. |
|---|---|
| Bibliography: |
Obsahuje bibliografii |
| ISBN: |
80-214-3221-7 |
| ISSN: |
1213-4198 ; |
| Signatura: | 2-1174.818 |
| Odkaz do Alephu: | Full view holdings |