English 
Čeština 
Vývoj ToF LEIS spektrometru pro zkoumání povrchů a tenkých vrstev = Development of the ToF LEIS spectrometer for surface and thin film analysis : zkrácená verze Ph.D. Thesis /
| Hlavní autor: | Průša, Stanislav, 1971- |
|---|---|
| Korporativní autor: | Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
[V Brně : Vysoké učení technické], c2006 |
| Edice: |
Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis,
sv. 383 |
| Témata: | |
| Fyzický popis: |
32 s. : il. ; 21 cm |
| Language note: |
Anglické resumé |
|
Knihy
| Popis jednotky: |
Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2003 "Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství"--Tit. s. |
|---|---|
| Bibliografie: |
Obsahuje bibliografii |
| ISBN: |
80-214-3221-7 |
| ISSN: |
1213-4198 ; |
| Signatura: | 2-1174.818 |
| Odkaz do Alephu: | plné zobrazení exempláře |