English 
Čeština 
Vývoj ToF LEIS spektrometru pro zkoumání povrchů a tenkých vrstev = Development of the ToF LEIS spectrometer for surface and thin film analysis : zkrácená verze Ph.D. Thesis /
| Main Author: | Průša, Stanislav, 1971- |
|---|---|
| Corporate Author: | Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství |
| Language: | Czech |
| Published: |
[V Brně : Vysoké učení technické], c2006 |
| Series: |
Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis,
sv. 383 |
| Subjects: | |
| Physical Description: |
32 s. : il. ; 21 cm |
| Language note: |
Anglické resumé |
|
Book
Z důvodu uzavření knihovny je až do odvolání zablokována možnost zadávání požadavků na výpůjčky. Děkujeme za pochopení.
| item status | due date | sublibrary | collection | location / second signature | description | note | Stock location mark |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
Reference only
|
On Shelf |
|
Stock / within 1 hour
|
2-1174.818 | |||
|
Month
|
On Shelf |
|
Stock / within 1 hour
|
2-1174.818 |