English 
Čeština 
Vývoj ToF LEIS spektrometru pro zkoumání povrchů a tenkých vrstev = Development of the ToF LEIS spectrometer for surface and thin film analysis : zkrácená verze Ph.D. Thesis /
| Hlavní autor: | Průša, Stanislav, 1971- |
|---|---|
| Korporativní autor: | Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství |
| Jazyk: | Čeština |
| Vydáno: |
[V Brně : Vysoké učení technické], c2006 |
| Edice: |
Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně. PhD Thesis,
sv. 383 |
| Témata: | |
| Fyzický popis: |
32 s. : il. ; 21 cm |
| Language note: |
Anglické resumé |
|
Knihy
Z důvodu uzavření knihovny je až do odvolání zablokována možnost zadávání požadavků na výpůjčky. Děkujeme za pochopení.
| status | půjčeno do | dílčí knihovna | sbírka / doba vyhledání | umístění | popis | pozn. | Skladová signatura |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
Jen do studovny
|
|
Sklad / do 1 hodiny
|
2-1174.818 | ||||
|
Měsíc
|
|
Sklad / do 1 hodiny
|
2-1174.818 |